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光缆施工知识:光缆接续过程中产生的大量衰耗点

发布时间:2021-12-27 15:08:28作者:oufu optical cable knowledge人气:

较长的脉宽会增加动态量程和长量程的测量距离,但OTDR曲线波形的盲区较大,脉宽越小,测量范围越小,但可以减少盲区。对于连接处较大的耗电量,我们采用开合接头盒进行再熔处理,并用OTDR实时监控,直至连接损耗达到要求。

阐述了光缆线路损耗大的起因和处理方法、线路维护试验方法以及光缆线路施工连续化的标准化作业流程。并简要地介绍了光纤的组成结构、命名方法和光纤的标准色谱排列顺序。力量大!在光缆线路建设过程中,光缆线路的衰耗指标是一项重要的考核指标,不仅要考核已完成的光纤平均损耗系数,而且要对光纤平均损耗系数进行考核,同时要对光缆线路的损耗系数进行评估,确保光缆线路的衰耗指标符合施工规范和验收标准的要求。

一、光缆大衰耗现象及原因

1.1光缆施工中,电缆敷设过程中,由于光缆敷设长度一般在2~3KM直埋敷设时,穿越的障碍物较多,敷设人员敷设距离较远,难以保证所有敷设人员协调行动,尤其是通过障碍物较多时,如:穿越防护钢管、拐弯、上下坡等,因此,电缆敷设过程中会出现一次严重的损伤现象。另外,在敷设光缆时,光缆端头上的光缆最易受损,而且在接续过程中,经常会显示其衰耗值很大,这时,即使反复熔接,也无法降低接续损耗值,从而形成较大的衰耗点。

1.2光缆接续过程中产生的大量衰耗点在光缆接续过程中,会出现大量衰耗点,通常使用OTDR(光时域反射计)来监控,即每熔接一根光纤,都用OTDR测试一下熔接点的衰耗值,具体测试时,采用双向监测法,由于光纤制造过程中存在差异性,两根光纤不可能完全一致,始终存在模场直径不一致现象,因此,用OTDR所测损耗值不是连续点的实际损耗,它的数值有正有负,一般采用双向测试的算术平均值作为实际衰耗值。一般采用实时监测,接续过程中,基本上可以保证熔断损失达到控制目的,但熔接完成后光纤收容后,由于光纤收容时,部分光纤受压或弯曲半径过小,即形成一个大衰耗点。束扭1550nm波长的光纤对微弯损耗十分敏感,当光纤受压时,即产生微弯点,或圆盘纤维时,弯曲半径太小,光纤信号在这里也会产生较大的衰减,表现在光纤后向散射曲线上,形成一个较大的衰耗阶梯;另外,一个比较容易忽略的原因是,光缆接头盒装配完成后,接头固定接头盒和固定光缆,由于接头盒中的光缆固定不牢固,导致光缆扭曲,使光纤束管变形,由于光纤受压,光纤衰弱。

1.3光缆到施工现场运输和装卸造成的大量损耗点,由于现场环境十分恶劣,尤其是敷设铁路通信光缆,吊车往往不能到达施工现场,此时,往往是靠人力将电缆卸下,外层光缆经常因为电缆盘径太小而损坏,导致外层光缆离地面太近,因电缆盘径太小,导致外层电缆离地面太近,由于现场土质软硬不一,在电缆卸下过程中,外层光缆经常受到损坏,原因是由于电缆盘径太小,导致外层光缆离地面太近,由于现场土质软硬不一,在滚筒光缆上滚转而使电缆盘绕地面。另外,光缆盘包没有用木板包封(一些是铁框架光缆盘,不能用木板包封),而只用塑料布包住光缆的外层,或单盘测试后,光缆盘包封没有恢复,起不到应有的保护作用,当光缆外层被石块等硬物对光缆外包时,光缆盘包未恢复,并不能发挥应有的保护作用。

1.4成端生产过程中产生的大量损耗点也常常在光缆成端过程中产生大损耗点。当成型时,由于一般没有监测熔接器损耗,单靠经验操作,所以产生较大衰耗点的机率也随之增加。另外,在光纤熔接器之后安装收容盘时,常常导致收容盘附近的光纤束管弯曲半径过小,或者导致光纤束扭扭变形,使此处光纤形成较大的衰减点,这类大衰耗点一般比较隐蔽,不像线路中间的大衰耗点用OTDR直接测出。

二、光缆大衰耗点的查找定位及处理

2.1一般大衰耗点位置光缆接续完成后,我们一般都要用OTDR对整个中继段进行测试,通过测试,可检验接续光缆中继段的光特性是否符合施工规范和验收标准的要求,主要从以下几个方面进行考核:除了正常的接头衰耗点的小台阶外,没有大衰耗点的小台阶。用OTDR进行光中继段测试及人衰耗点定位时,首先要对仪器的测试参数进行设定,如测试距离、波长、脉宽、折射率、平均化处理时间等。

对于测试量的设定,一般根据系统所采用的波长来选择适当的测距,使整个中继段曲线占2/3,而测试波长则根据系统采用的波长确定,对于长途电话光缆一般为1310nm,1550nm的折射率根据厂家的光纤折射率设定;脉冲宽度是一个重要的设置参数,脉冲宽度太小,测试的动态范围太小,无法完整地测试整个曲线,表现出曲线末端噪声信号大,得到的曲线质量差;脉冲宽度太大,测试的范围越大,通常根据被测中继段长度,选择一个合适的测试脉冲宽度,并考虑测试精度。通过OTDR分析软件,可以准确地判断出线路上光纤故障点的位置,通常可以用联接箱故障和缆身故障两种情况对测试仪测得的曲线进行分析。

2.2大衰耗点的处理首先要确定大衰减点是否为接头位置,一般在连接点处,所有光纤都有衰耗级或大级或小级,可以把多条光纤的曲线同时分析,所有的曲线在接头点上都有大小不等的台阶,我们可以对每条光纤的双向衰耗值进行测试和计算,对大于指标要求的做记录,并安排对接头位置的大衰耗点进行处理。对于非接合点处光纤的大衰减点,我们通过多条曲线同时分析可以发现,有些曲线在这一点上有衰耗阶梯,有些则没有衰耗台阶,由此可以判断,这不是接头位置的故障,而是光缆线路中间光缆有故障。对于接头故障,其定位位置比较好,对于非接头故障,定位较为困难,一般原则是对离测试端较近的故障点进行测试,利用OTDR测出故障点离测试点最近接头点的距离,而对离测试点较远的故障点,由于距离远,测试的精确度相对下降,定位精确,定位准确,因此较困难,因此需要对OTDR进行标定,以测得故障点距离为准。

对于连接处较大的耗电量,我们采用开合接头盒进行再熔处理,并用OTDR实时监控,直至连接损耗达到要求。有时候,经过多次熔接后,连接损耗达不到要求,此时就要检查光纤束管的变形是否造成了光纤受压,盘纤盘留在光纤弯曲半径是否过小,光纤是否受压力等。检查后,如果不能满足要求,要考虑接头盒前后的光缆是否有问题。由于终端光缆施工中较易损坏,此时要再将一段光缆切掉再熔接整个光纤。为防止这种情况发生,我们可以在接续之前,仔细检查余留式光缆,可疑端头光缆应采取多截去一段的做法,以免发生这种问题。对于光缆中间大衰减点的处理,在发现故障点后才能发现这类故障,也可能是光缆有过打背扣现象,或是光缆受到损坏,如被石头等硬物擦伤,使光缆出现凹陷、压扁等变形现象,光纤束管变形后,光纤束管变形,或者损坏光纤。加工时,可将这一段光缆截去从新熔接一般经过这一处理,大衰减点基本消失。对于施工中发现的打背扣故障点,应找到故障点作适当的余留,以备处理。如果损坏严重,加接头盒处理时,可以脱下光缆外护套,并对损坏束管进行处理,必要时接接损坏束管的光纤。试验点应与现场熔接者分别进行一次试熔后的试验,光纤盘留试一次,接合盒紧固密封后进行一次测试,经试点试点确认衰耗点故障消失后,现场人员可撤离。第2节线路维修试验仪表的使用方法,从目前的实际情况来看,从光缆线路的维修工作入手,考虑和可能的试验项目和手段,确定必要的试验项目。主要有:单盘光缆试验、光缆中继段试验、光缆中继段试验、光缆线路继电器故障抢修试验等。为使仪器的使用更加准确,数据分析更加准确,这一节对常用的关键仪器光时域反射光计(OTDR)做了较为详细的介绍,对测得数据的管理与分析作了探索性的论述。这些都是光缆线路维修的关键之一。


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